X-Ray Fluorescence สำหรับอุตสาหกรรมทองและจิวเวลรี่
คุณลักษณะ เครื่องวัดและวิเคราะห์โลหะผิวเคลือบ - ชุบ สามารถวัดความหนาผิวเคลือบ, ชุบ และวิเคราะห์ ปริมาณธาตุได้สูงสุด 24 ธาตุ และ 24 ชั้น สามารถวัดชิ้นงานที่เป็นของแข็ง ของเหลว และผงได้ สามารถวัดพื้นที่เล็กที่สุด 0.2 mm. (Collimator) มีความเที่ยงตรงในการวัด < 2 ppm หรือ 0.05% Au Full Option Statistic Process Control เหมาะกับงาน Gold Analyze, Jewelry, งานวิเคราะห์ทั่วไป และงานวิจัย RoHS, ELV, WEEE, EDX, Analysis Unknow sample RoHS Screeing Following IEC 62321,ISO9001/2000, ISO 17025 รับประกันคุณภาพ 1 ปี
Call Seller for Quote
Model:
ED-XRF
Company Information
Name :
BURAPA SCIENCE CO., LTD.
Contact :
บูรพา ซายน์
Tel : Please login.